北京若水合科技有限公司

概述

手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！

仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

三、基本技术参数

1.测量范围、分辨率

电   阻：     1.0×10-2～ 2000Ω,   分辨率0.1×10-3～ 0.1×10Ω

电 阻 率：     1.0×10-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2～ 0.1Ω-cm

方块电阻：     1.0×10-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1～ 0.1×10Ω/□

2.可测半导体材料尺寸

直       径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm,   其他方式不限.

3.量程划分及误差等级

4)适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或锂电池供电

5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重：≤0.5kg

四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司网站

查看《M-2数字式四探针测试仪技术使用说明书》

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《M-3手持式四探针测试仪技术简介》